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子宫内膜芯片筛检技术反复性流产的终结者
发布时间:2016-11-30 10:57:49

 摘要:个性化胚胎植入( personalized Embryo Transfer, pET),意即针对准备胚胎植入之个案,安排在服用黄体素后五天、打破卵针后七天,进行子宫内膜采样,将取得组织利用子宫内膜基因芯片做分析,ERA ( endometrial receptivity assay) 值若呈现R(receptive),则再下周期的同一天进行解冻植入,可明显提升怀孕率。提高难孕个案怀孕率,除了以现有胚胎缩时摄影、胚胎着床前切片、全基因筛选挑选内在最优良的囊胚植入子宫外。针对反复性流产的客户,未来可利用ERA子宫内膜接受度芯片筛检,找出个性化子宫内膜最佳植入时间

反复性流产(Repeated implantation failure; RIF)一直是许多尝试怀孕妈妈的心头痛,该做的基本检查都一一确认没问题,失败原因有时连医师也百思不得其解,面对无助的妈妈除了给予精神上的支持外,还可以为她们做点什么?

目前临床上被认为造成RIF原因包含:一、子宫环境的问题包括瘜肉、沾黏…等;二、输卵管水肿;三、胚胎染色体异常;四、生活型态…等;而以上大多原因在目前医学上都可藉由检查并进一步做治疗,然而针对子宫内膜对于胚胎的接受度,目前临床上仅利用超音波确认子宫内膜厚度及等级并计算黄体素投药天数来选择植入胚胎的时间,然而并非每位女性都适合这制式化的套组,针对屡植不中的的女性而言,找出最佳的着床窗口的时机点就更为重要了。

2014年生殖医学年会请来西班牙IVI团队Dr. Antonio Pellicer来台演讲,导入个性化胚胎植入(Personalized embryo transfer;PET)的概念(图一),告诉我们如何选择一颗好胚胎并找出每个人胚胎植入的最佳时机点。


图一:个性化胚胎植入流程

随着生殖科技日趋成熟,藉由缩时摄影培养系统(Timelapse culture system)及着床前染色体筛检(Preimplantation genetic screening)已经可以协助我们找出健康胚胎,而近来,IVI团队更利用子宫内膜基因芯片(Endometrial receptivity array,ERA)找出胚胎植入的最佳时间点,提高反复性流产客户怀孕的机会。子宫内膜采样的时间点分别为自然周期LH surge或打破卵针后七天(LH+7),而荷尔蒙补充周期则于开始服用黄体素的第五天(P+5)采样(如图二所示)。


图二:子宫内膜采样时间点

依照不同阶段子宫内膜表现的基因特性可分为:接受期(receptive,R)、接受期前(prereceptive,Pre-R)、接受期后(postreceptive,Post-R)及增生期(peroliferative);同一位客户分别在荷尔蒙补充周期的P+4、P+5及P+6天做ERA发现仅有P+6所表现的基因群为接受期,显示胚胎最佳的着床窗口确实因人而异(图三)。


图三:子宫内膜不同阶段的基因表现群不同

利用ERA test进行个性化胚胎植入的步骤及策略如图四所示,常规于P+5/LH+7天做子宫内膜采样进行ERA test,若结果为R表现,则下周期于同一天进行胚胎植入,若为NR则依照基因表现型再提前或延后做ERA test,直到内膜基因表现型为R,才于次周期进行胚胎植入。


图四:利用ERA test进行个性化胚胎植入流程图

随着医疗水平的进步,个性化医疗已是未来的趋势,针对难孕症的治疗亦是如此,针对不同年龄、卵巢库存量及BMI……等个体化差异设计不同的针剂疗程及建议,而现在,面对多次植入胚胎失败的客户也可以针对子宫外观环境及个体基因表现选择最佳植入的时机,打造专属的客制化疗程(图五)。


图五:多次胚胎植入失败的客户针对子宫环境及基因表现选择最佳的植入时机

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